我司生產(chǎn)的可靠性環(huán)境試驗設(shè)備在LED行業(yè)應(yīng)用非常廣泛,在從事業(yè)務(wù)過程中,常常會接到客戶說:“我們是LED行業(yè)的,你幫我推薦些試驗設(shè)備吧"。那么LED行業(yè)到底需要哪些設(shè)備呢?
LED在實際使用中,由于復(fù)雜的環(huán)境以及封裝工藝局限性從而使封裝材料退化、熒光粉退化、金屬電遷移、局部溫度過高產(chǎn)生的熱應(yīng)力所引起的芯片和硅膠的分層或金線斷裂等等,從而影響LED發(fā)光甚至導(dǎo)致整個LED的失效。而且LED產(chǎn)生的高溫會導(dǎo)致芯片的發(fā)光效率降低,光衰加快、色移等嚴(yán)重后果。
LED照明系統(tǒng)中的典型失效模態(tài)
| 失效模式 |
芯片 | LED芯片失效、光衰 |
封裝 | 斷線,脫焊 光型變化 靜電擊穿 膠材黃化 |
照明系統(tǒng) | 光型變化 驅(qū)動失效 靜電擊穿 濕氣侵入 |
由于LED壽命長,通常采取加速環(huán)境試驗的方法進行可靠性測試與評估。加速度測試將會模仿燈具的應(yīng)用條件或用戶要求,這樣可以更有效地研究各種破壞機理,提供大量數(shù)據(jù)去研究LED的結(jié)構(gòu)、材料、工藝從而更好完善LED產(chǎn)品。一些典型的加速可靠性試驗。
應(yīng)用于LED照明系統(tǒng)的典型加速可靠性實驗
| 條件 |
冷熱循環(huán) | -40℃~125℃200H循環(huán) |
高溫高濕 | 85℃/85%,1000小時 |
關(guān)機測試 | 1小時開/1小時關(guān) |
震動測試 | 隨機振動 |
然而,加速老化試驗只是研究問題的一個方面,對LED壽命的預(yù)測機理和方法的研究仍是有待研究的難題?,F(xiàn)在的LED技術(shù)面臨著巨大的挑戰(zhàn)和機遇。企業(yè)的目標(biāo)主要是保證產(chǎn)品長期的可靠性,例如,根據(jù)產(chǎn)品不同,LED應(yīng)用的范圍壽命從7000小時到50000~100000小時不等。這對于一個電子企業(yè)是有相當(dāng)挑戰(zhàn)性的,因為他們的電子產(chǎn)品現(xiàn)在只有2-3年壽命。對于50000~100000小時的SSL系統(tǒng)(包括電源驅(qū)動),有必要進行可靠性設(shè)計,以符合產(chǎn)品的高要求。
目前,如何通過加速老化試驗準(zhǔn)確地預(yù)測LED產(chǎn)品的可靠性還是相當(dāng)有挑戰(zhàn)性的。對于LED產(chǎn)品的長期可靠性,應(yīng)當(dāng)關(guān)注如何建立用加速試驗來反映產(chǎn)品中出現(xiàn)的問題。對于了解和預(yù)測宏觀系統(tǒng)的可靠性,可測性非常具有挑戰(zhàn)性,主要是因為可靠性是一個多學(xué)科的問題,并且涉及到材料、設(shè)計、制造工藝、試驗和應(yīng)用條件。因此,有必要開發(fā)LED燈和燈具的加速試驗以及戶外照明燈具性能測試實驗,從而可以有效地研究關(guān)于LED的各種破壞機理。
飛利浦公司目前致力于研究可靠性測試標(biāo)準(zhǔn),從而深入了解LED以及電源驅(qū)動的失效機理。去年年底已經(jīng)在我司訂制了一臺快速升降溫的試驗箱。
為此,LED行業(yè)需要用到恒溫恒濕試驗箱,高低溫試驗箱,快速溫變試驗箱,高低溫沖擊試驗箱,電磁振動試驗臺,模擬運輸振動試驗臺,淋雨試驗箱,砂塵試驗箱等,我們公司可以成套銷售,為您解決一站式服務(wù),歡迎前來公司實地考察,咨詢。