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  • QS-710快速高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)
    QS-710快速高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)

    快速高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)又叫熱流儀,氣壓沖擊試驗(yàn)機(jī)等,適用于光通訊(如收發(fā)器 transceiver 高低溫測(cè)試、SFP 光模塊高低溫測(cè)試等)、各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、溫度沖擊測(cè)試、高低溫循環(huán)測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)的設(shè)備。

    更新時(shí)間:2024-12-27型號(hào):QS-710瀏覽量:2706
  • QSWQ7100熱流儀工作原理
    QSWQ7100熱流儀工作原理

    熱流儀工作原理適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發(fā)器 transceiver 高低溫測(cè)試、SFP 光模塊高低溫測(cè)試等)、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)。

    更新時(shí)間:2024-12-27型號(hào):QSWQ7100瀏覽量:7234
  • QSWQ-710超快速冷熱沖擊熱流儀
    QSWQ-710超快速冷熱沖擊熱流儀

    超快速冷熱沖擊熱流儀適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發(fā)器 transceiver 高低溫測(cè)試、SFP 光模塊高低溫測(cè)試等)、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)。

    更新時(shí)間:2024-12-27型號(hào):QSWQ-710瀏覽量:4035
  • 超快速高低溫氣流沖擊試驗(yàn)機(jī)
    超快速高低溫氣流沖擊試驗(yàn)機(jī)

    超快速高低溫氣流沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于各類閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發(fā)器 transceiver 高低溫測(cè)試、SFP 光模塊高低溫測(cè)試等)、半導(dǎo)體芯片、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、溫度沖擊測(cè)試、高低溫循環(huán)測(cè)試失效分析等可靠性試驗(yàn)。

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  • QS-710WQ超高速高低溫氣流沖擊試驗(yàn)機(jī)
    QS-710WQ超高速高低溫氣流沖擊試驗(yàn)機(jī)

    超高速高低溫氣流沖擊試驗(yàn)機(jī)可針對(duì)眾多元器件中的某一單個(gè)IC或其它元件,將其隔離出來單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊,而不影響周邊其它器件,與傳統(tǒng)冷熱沖擊試驗(yàn)箱相比,溫變變化沖擊速率更快。

    更新時(shí)間:2024-12-27型號(hào):QS-710WQ瀏覽量:3997
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